概述
LDT系列半导体激光器参数综合测试仪是测量半导体激光器主要性能参数和特性指标的精密仪器。该系列产品测试光功率范围从0.1mW-1000W以上，光谱测试范围从600-1700nm，根据器件封装形式的不同选择不同的夹具，包括： TO系列、COS 、C-MOUNT、BAR系列、光纤输出系列等等。同时可以根据不同行业的需要进行设计，以满足科研、生产、教学等需要。
主要技术指标
系统主要功能包括测量LD的光电特性（LI和LIM）、伏安特性（IV）、光谱特性（SP）、远场特性（FF）、近场特性（NF）和热特性（T），具体如下：
l 进行LIV和LI测试，绘制LIV曲线和LIM曲线，检测、推算工作电流、输出光功率、工作电压、阈值电流、功率效率、斜率效率、微分电阻、背光电流等参数；
l 进行光谱测试：绘制光谱曲线，推算峰值波长、光谱谱宽；
l 进行远场测试: 绘制远场曲线，推算水平发散角、垂直发散角；
l 进行热阻测试；
l 测试数据能够保存、导入，可打印标准测试报告。
可测量参数
IO
工作电流
Ith
阈值电流
PO
输出光功率
*
斜率效率
VO
工作电压
EP
功率效率
Rd
微分电阻
λp
激光峰值波长
IM
背光电流
Δλ
波长宽度
θ∥
远场水平发散角
θ⊥
远场水平发散角
Rth
热阻
