SGW X-4A显微熔点仪

应用范围：应用范围：测定物质的熔点。用于*、化工、纺织、染料等晶体*化合物之测定，显微镜观察。既可用毛细管法测定，又可用载玻片-盖玻片法（热台法）测定。

性能指标

熔点测量范围：室温至320℃

*小读数：0.1℃

测量重复性：&plu*n;1℃（在<200℃时）
&plu*n;2℃（在200～300℃时）

光学放大倍数：目镜10X；物境4X

SGW X-*显微熔点仪

应用范围：测定物质的熔点。用于*、化工、纺织、染料等晶体*化合物之测定，显微镜观察。既可用毛细管法测定，又可用载玻片-盖玻片法（热台法）测定。

性能指标

熔点测量范围：室温至320℃

*小读数：0.1℃

测量重复性：&plu*n;1℃（在<200℃时）
&plu*n;2℃（在200～300℃时）

配双目体视显微镜

光学放大倍数：40X-100X连续可调