单晶少子寿命测试仪

类型:单晶少子寿命测试仪品牌:恒奥德型号:GSZ-DSY-II 测量范围:见资料（MΩ）

单晶少子寿命测试仪寿命测试仪测试仪型号：GSZ-DSY-II

*.用于测量硅单晶的非平衡少数载流子寿命。

本仪器根据国际通用方法高频光电导衰退法的原理设计，由稳压电源、高频源、检波放大器，*的InGaAsp／InP红外光源及样品台共五部份组成；
*.测试单晶电阻率范围：>10Ω.cm
*可测单晶少子寿命范围：20μS-5000μS；