wi81406塑料薄膜和薄片测厚仪

一、产品概述 本测厚仪适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度(不适合用于压花的薄膜和薄片)。本测厚仪执行GB/T6672-2001标准。

二、主要技术参数

1、分度值0.001mm 量程0-1mm

2、上下测量面为平面时，测量面对试样施加的负荷为0.5N到1.0N之间。

3、上下测量面为凸/平面时，上测量面的曲率半径在15-50(mm)时，其测量面对试样施加的负荷为0.1N到0.5N之间。

4、测量精度 100um以内 精度1um 100um到250um 精度2um 250um以上 精度3um

三、使用方法

1、测试前转动表盘让指针调到*位，并试行按动捏手几次，回*后方可测试。

2、使用时按下捏手使测头升起，将被测物件放于上下测头之间，轻放捏手使之接触，此时读数即为被测试样的厚度。

3、为使测试准确，可在同一被测物的不同位置进行测量，取其平均值。

4、使用完毕，应将一起擦净，装入仪器盒，放置干燥处，放置受潮。