该仪器适用于光化学、高分子材料老化、探伤、紫外光源、植物栽培、大规模集成电路光刻等领域的紫外辐照度测量工作。主要性能指标： * 波长范围及峰值波长：（1）WIUV－365探头：（光谱响应曲线见图） λ：(320～400)nm；λP＝365nm （2）WIUV－420探头：（光谱响应曲线见图） λ：(375～475)nm；λP＝420nm * 辐照度测量范围： (0.1～199.9×103)μW/cm2 * 紫外带外区杂光： WIUV365：小于0.02％ WIUV420：小于0.02％ * 准确度： ±10％ * 角度响应特性： *合*二级光照度计标准 * 响应时间： 1秒 * 使用环境： 温度(0~40)℃；湿度＜85％RH * 尺寸和重量： 180mm×80mm×36mm；0.2kg * 电源： 6F22型9V积层电池一只
