特性阻*测试是采用时域反射技术设计的特性阻*测试系统，能够批量化、自动化、快速、准确测试PCB迹线的特性阻*，并提供测试波形分析、统计数据分析、自动记录测试数据、自动出具检测报告并打印等功能。适用于电路板制造厂商的研发、设计、生产及品管单位。为高频线路板特性阻*测试提供了一套快速、准确、标准和经济的解决方案。 特性阻*测试仪功能概述： 1) 批量化、自动化测试，操作简单、测试快捷，适合PCB工厂快速测试 2) Windows操作环境，友好的人机界面，自动出具测试结果 3) 提供单端和差分阻*测试 4) 支持2通道、4通道及8通道测试 5) 快速定制测试任务及批量化、自动化测试功能 6) 集成测试文件编辑器，快速设置测试参数 7) 自动记录测试数据，生成报表并保存在磁盘上 8) 显示测试波形、统计数据分析及测试结果 9) 打印测试报表、波形及测试结果 10) *合*-TM-650和*2141标准 PCB特性阻*测试仪技术参数 控制阻*测试范围 20-150Ω 测量精度 50Ω±1% 测量长度 *大2m，*小*0.09m 垂直显示分辨率 0.05Ω 测试方法 时域反射法（TDR）
