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产品属性
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类型 | 读数显微镜JC | 品牌/商标 | 上海光学 |
型号/规格 | J*-10 |
读数显微镜JC-10 J*-10
一、 用途
该仪器结构简单、使用方便,可测定孔距、刻线宽度、刻线距离、键槽宽度、狭缝凹痕、工件宽度、长度、金属表面质量、纤维、织物密度、野外标本等。
本仪器尤其适合测量布氏、洛氏及维氏硬度试验压痕尺寸。
二、主要技术参数
| JC-10 | J*-10 |
仪器放大倍数 | 20 | 40 |
目镜放大倍数 | 20 | 20 |
物镜放大倍数 | 1 | 2 |
测量范围 | 0-6mm | 4MM |
测微鼓轮*小读数值 | 0.01mm | |
测量精度 | 0.01mm | 0.005MM |
仪器重量 | 0.5kg | 0.4KG |
线视场 |
1.仪器放大倍数: 20×
2.目镜放大倍数: 20×
3.物镜放大倍数: 1×
4.分划板格值: 1毫米
5.分划板刻度范围: 8毫米
6.测量范围: 4毫米
7.测微鼓轮*小读数值: 0.01毫米
8.仪器重量: 0.5公斤
1.仪器放大倍数: 40×
2.目镜放大倍数: 20×
3.物镜放大倍数: 2×
4.分划板格值: 0.5毫米
5.分划板刻度范围: 4毫米
6.测量范围: 2毫米
7.测微鼓轮*小读数值: 0.005毫米
8.仪器重量: 0.4公斤
上海光学
J*-10