供应x荧光镀层测厚仪，X-ray镀层测厚仪CMI980

牛津X荧光镀层测厚仪主要用于测试元素的含量或镀层的厚度。正业科技现为牛津X荧光镀层测厚仪的代理商。

X荧光镀层测厚仪X-Strata980结合了大功率X射线管和高分辨率探测器，能够满足多镀层、复杂样品和微小测试面积的检测需求。这款仪器的电制冷固态探测器**佳的信/躁比，从而降低检测下限。探测器分辨率*高，能更容易地识别、量化和区分相邻的元素。有害元素检测结果可*到ppm级，*产品满足*要求，帮助企业降低高昂的产品召回成本和法令执行成本。您可以针对您的应用选择*合适的分析模型：经验系数法、基本参数法或两者结合。这款仪器能对电子产品上的关键组装区域进行快速筛选性检测。一旦识别出问题区域，即可对特定小点进行定量分析。大型样品舱能够灵活地检测大件或形状不规则的样品，大舱门使样品更易放入。

100瓦X射线管  25mm2PIN 探测器 多准直器配置 扫描分析及元素分布成像功能 灵活运用多种分析模型 清晰显示样品合格/不合格 *样品舱 同时分析元素含量和镀层厚度


X荧光镀层测厚仪X-Strata980可测试元素的含量或镀层的厚度，可分析的元素范围从原子序数16位（S）至92位（U）；进行元素成分分析时，仪器可同步分析25种不同元素的含量。可同时分析5种镀层（基材及4种镀层）/15种元素/含常州规元素的修正功能。由ISO3497 ASTM B568和DIN50987所认证的进行镀层厚度测试的方法。