供应CMI900镀层测厚仪

CMI900X射线荧光镀层测厚仪，有着非破坏，非接触，多层合金测量，高生产力，高再现性等优点，在质量管理到不良品分析有着广泛的应用。用于电子元器件，半导体，PCB，汽车*部件，功能性电镀，装饰件，连接器等多个行业。

CMI900镀层测厚仪及X射线荧光测厚仪CMI900主要特点

样品种类：镀层、涂层、薄膜、液体(镀液中的元素含量)
可检测元素范围：Ti22 – U92
可同时测定5层/15种元素
精度高、稳定性好
强大的数据统计、处理功能
测量范围宽
NIST认证的标准片
*服务及支持

CMI900测厚仪特点：

快速*的分析：正比计数探测器和50瓦微焦X射线管，大大*了灵敏度
简单的元素区分：二次光束过滤器可以分离重叠元素
性能优化，测量元素范围广： 可预设参数
CMI900 提供800多种预设应用参数/方法
杰出的长期稳定性： 
自动热补偿测量仪器温度，纠正变化，提供稳定的结果
简单快速的光谱校准，定期检查仪器性能(如灵敏度)，并提供*要的纠正
坚固耐用的设计

可以在实验室或生产线上操作
坚固的工业设计 
经行业验证的技术，在*销售量*过3000台
电子行业
五金电镀行业
金属合金行业
电子元件

*调整生产过程，从而*生产力

*元件*性
测量焊料合金成份和镀层厚度
优化质量控制，从而*产品生命周期
分析导电性镀层金和钯的厚度
测量电脑硬盘上的NiP层厚度
五金电镀

电镀处理的成本*小化，产量*大化

快速简单的分析
同时进行单层或多层镀层厚度测量及成份分析
*多可分析4层(不包括基层)
镀液成份分析
珠宝及其他合金的快速*分析

贵金属合金分析
黄金纯度分析
材料鉴定