薄膜厚度测量仪

活动范围 150 x 120mm(70 x 50mm 移动距离)
测量范围 200Å~ 35㎛(根据膜的类型)
光斑尺寸 20㎛ 典型值
测量速度 1~2 sec./site
应用领域 聚合体: PVA, PET, PP, PR ...

电解质: SiO2 ,TiO2 , ITO , ZrO2 , Si3N4 ..

半导体: Poly-Si, GaAs, GaN, InP, ZnS...

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探头类型 三目探头
nosepiece Quadruple Revolving Mechani* with Inward Tilt
照明类型 12V 35W Halogen Lamp Built-in Control Device & Transformer