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SM-112测厚规 品牌:TECLOCK(日本得乐)
用于纺织布料、薄膜、纸张等物品的厚度测量。
测量范围:0-10mm
*小读数:0.01mm
测量深度:26mm
产 品 介 绍 订购编号:20705
原理:在*的面积与*荷重下,测量出的物件厚度。指针式测厚规可以作为物品检测时的基础测量。
技术参数:
指式方式:指针式
体积大小:(W*D*H)87*23*105mm
重量:150g
SM-112
日本得乐
美国特赛TSI8530大气粉尘监测仪
供应美国狄夫斯高defelsko涂层测厚仪PosiTest DFT-F/C
供应英国雷迪管线泄漏检测仪RD533/RD532漏水检测仪相关仪
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