供应宽带隙小型深紫外PL-Mapping（光致发光）光谱仪

        光致荧光光谱测量是半导体材料特性表征的一个被普遍*的重要测量手段。MiniPL为模块化设计、计算机自动控制的高灵敏度、宽带隙小型PL（光致荧光）光谱仪；MiniPL采用Photon Systems公司自行研发的深紫外激光器224nm(5.5eV)或248.6nm(5eV)作为激发光源，配合*的光路设计，采用高灵敏度PMT作为探测器件，并通过仪器内置的门闸积分平均器（Boxcar）进行数据处理，实现微弱脉冲信号的检测。MiniPL可被用表征半导体材料掺杂水平分析、合成组分分析、带隙分析等，不*可用于科研领用，更可用在半导体LED产业中的品质检测。

主要规格特点： ■ 采用5.5(224nm)或5.0 eV(248.6nm)深紫外激光器 ■ 室温PL光谱测量范围：190~650nm（标准），190~850nm（选配） ■ 高分辨率：0.2nm（@1200g/mm光栅，标配），                     0.07nm（@3600g/mm光栅，选配） ■ 门闸积分平均器（Boxcar）进行微弱脉冲信号的检测 ■ 可实现量子效率测量 ■ 基于LabView的界面控制 ■ 光谱分析软件可获得光谱带宽、峰值波长、峰值副瓣鉴别、光谱数据运算、归一化等 ■ *大可测量50mm直径样品，样品可实现XYZ三维手动调整（标准） ■ 可选配自动样品扫描装置，实现Mapping功能 ■ 可用于紫外拉曼光谱测量 ■ 高度集成化，体积：15 ×18  × 36cm，重量：<8kg
产品列表

      AlGaN光致发光光谱及PL Mapping光谱（含3D图谱），样品尺寸：直径50mm（样品由客户提供）