供应宽带隙小型深紫外PL-Mapping(光致发光)光谱仪

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宽带隙小型深紫外PL-Mapping(光致发光)光谱仪

        光致荧光光谱测量是半导体材料特性表征的一个被普遍*的重要测量手段。MiniPL为模块化设计、计算机自动控制的高灵敏度、宽带隙小型PL(光致荧光)光谱仪;MiniPL采用Photon Systems公司自行研发的深紫外激光器224nm(5.5eV)或248.6nm(5eV)作为激发光源,配合*的光路设计,采用高灵敏度PMT作为探测器件,并通过仪器内置的门闸积分平均器(Boxcar)进行数据处理,实现微弱脉冲信号的检测。MiniPL可被用表征半导体材料掺杂水平分析、合成组分分析、带隙分析等,不*可用于科研领用,更可用在半导体LED产业中的品质检测。

主要规格特点:
■ 采用5.5(224nm)或5.0 eV(248.6nm)深紫外激光器
■ 室温PL光谱测量范围:190~650nm(标准),190~850nm(选配)
■ 高分辨率:0.2nm(@1200g/mm光栅,标配),
                    0.07nm(@3600g/mm光栅,选配)
■ 门闸积分平均器(Boxcar)进行微弱脉冲信号的检测
■ 可实现量子效率测量
■ 基于LabView的界面控制
■ 光谱分析软件可获得光谱带宽、峰值波长、峰值副瓣鉴别、光谱数据运算、归一化等
■ *大可测量50mm直径样品,样品可实现XYZ三维手动调整(标准)
■ 可选配自动样品扫描装置,实现Mapping功能
■ 可用于紫外拉曼光谱测量
■ 高度集成化,体积:15 ×18  × 36cm,重量:<8kg

 

产品列表

 

型号

规格描述

MiniPL 5.0eV

NeCu激光器(248.6nm),三维手动调节样品台,单光栅1200g/mm, PMT 190~650nm),驱动及软件;

MiniPL 5.5eV

HeAg激光器(224.0nm) ,三维手动调节样品台,单光栅1200g/mm, PMT 190~650nm),驱动及软件;

升级选项

光电*管选项

升级为190-850nm

光栅选项

增加第二块光栅(3600g/mm

Mapping功能选项

升级为X-Y自动扫描样品台

低温制冷选项

4K6.5K10K低温制冷样品室,低震动设计,振幅小于5nm

(选配低温选项时不能同时进行Mapping测量)

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

      AlGaN光致发光光谱及PL Mapping光谱(含3D图谱),样品尺寸:直径50mm(样品由客户提供)

型号/规格

MiniPL

品牌/商标

zolix