供应X-Strata980|X荧光镀层测厚仪|痕量元素分析仪

X-Strata980|X荧光镀层测厚仪|痕量元素分析仪应用:
--RoHS/WEEE
--有害元素痕量分析
--焊料合金成分分析和镀层厚度测量
--电子产品中金和钯镀层的厚度测量
--五金电镀、CVD、PVD镀层的厚度测量
--贵金属合金分析和牌号鉴定

X-Strata980|X荧光镀层测厚仪|痕量元素分析仪简介：
X-Strata980结合了大功率X射线管和高分辨率探测器，能够满足多镀层、复杂样品和微小测试面积的检测需求。这款仪器的电制冷固态探测器**佳的信/躁比，从而降低检测下限。探测器分辨率*高，能更容易地识别、量化和区分相邻的元素。有害元素检测结果可*到ppm级，*产品满足*要求，帮助企业降低高昂的产品召回成本和法令执行成本。您可以针对您的应用选择*合适的分析模型：经验系数法、基本参数法或两者结合。这款仪器能对电子产品上的关键组装区域进行快速筛选性检测。一旦识别出问题区域，即可对特定小点进行定量分析。大型样品舱能够灵活地检测大件或形状不规则的样品，大舱门使样品更易放入。

X-Strata980|X荧光镀层测厚仪|痕量元素分析仪特点::
--100瓦X射线管
--25mm2PIN 探测器
--多准直器配置
--扫描分析及元素分布成像功能
--灵活运用多种分析模型
--清晰显示样品合格/不合格
--*样品舱
--同时分析元素含量和镀层厚度