位移传感器 运用ZLDS100位移传感器测量SIM卡卡槽深度

运用ZLDS100位移传感器测量SIM卡卡槽深度

现代工艺的发展已经明显呈现出高精尖和更具便利性的方向，在手机和平板电脑的发展过程中尤为突出，一项科研报告指出，目前一部智能手机所集成的功能和运算能力已经超越了一台90年代高端电脑。在工艺越来越细化的今天，许多相应的配件也进一步的向精细化方向发展，但又因为精密工业对产品规格的严格要求，对产品规格的检测一度成为制约行业发展的一个瓶颈问题，但真尚有ZLDS100位移传感器的运用，使这个难题迎刃而解。

检测方案：

1、通过二维激光传感器ZLDS200对SIM卡卡槽进行扫描，得到完整清晰的轮廓曲线，在通过简单的算法来计算出想要得到的卡槽深度数据。可以保证Z轴方向0.1%-0.15%的线性度，采样平率为500Hz；

2、同样可以通过使用ZLDS100位移传感器来进行测量。这需要制作配套的支架与运动机构。加上时间的坐标也就是一个二维传感了，可以测量一条线上的轮廓，当然也就可以得到客户需要的高度值。该位移传感器可以做到50KHz的采样频率，可以满足有特殊应用要求的客户。  

在第二套测量方案中，需要注意的是奇点前面是一段弧面，对于奇点的测量会有零点出现的现象，所以需要通过一些巧妙的算法来支撑才能得到我们想要的结果。