供应X射线荧光分析仪

地区:广东 中山
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智泰精密仪器(中山)有限公司

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产品介绍
 
    第三代3DFAMILY X射线荧光分析仪,采用**的硅SIPIN探测器(分辨率为150ev),实现了无液态氮检出器下高灵敏度的检测功能。配备自动切换的滤光片及*式X射线球管,**地缩小了X射线源与被测物体的间距,从而在较低的电压下*同样的激发效率,同时减少了漫射光的干扰,大大地*了灵敏度和读数的准确性,重复性。
 
产品特点
1、在测定微量成分时,由于X射线管的连续X射线所产生的散射线会产生较大的背景,致使目标峰的观测比较困难。为了降低或消除背景和特征谱线等的散射X射线对高灵敏度分析的影响,此荧光分析仪配置了4种可自动切换的滤光片,*地降低了背景和散射X射线的干扰,调整出*具感度的辐射,进一步*了S/N的比值,从而可以进行更高灵敏度的微量分析。
2、X射线管的连续X射线所产生的散射线会产生较大的背景,软件可自动过滤背景对分析结果的干扰,
从而能*对任何塑料样品的进行快速准确的分析。
3、当某些元素的电子由*向低等级越迁时释放的能量相近,会使此时谱图的波峰重叠在一起,由
此产生了重叠峰。SCIENSCOPE自行开发的软件自动剥离重叠峰,*了元素分析的正确性。
4、逃逸峰:由于采用的是Si针半导体探测器,因此当X射线荧光在通过探测器的时候,如果某种元素
的含量较高(能量也会相应的较高),其被Si吸收的概率也就越大。此时,光谱图中在该元素的能量
值减去Si能量值的地方回产生一个峰,此峰即为逃逸峰。
5、在电压不稳的情况下,可对扫描谱图的漂移进行自动追踪补偿。

 
技术参数

分析原理

能量色散X射线荧光分析法

分析元素

Si~U(Cd/Pb/Cr/Hg/Br*型)

Na~U(任选:φ1.2mm/φ0.1mm切换方式型)

检出下限

Cd/Pb/Hg/Br/Cr≤5ppm

样品形状

*大460×380mm(高150mm)

样品

塑料/金属/纸/涂料/油墨/液体

样品室气氛

大气

X射线管

靶材

Rh

管电压

*大50KV

管电流

*大1mA

X射线照射径

1/3/5mm

*护

<0.1mR/Hr (辐射低于电脑屏幕)

检测器

硅SIPIN探测器

光学图像观察

倍率15倍

软件

定性分析:自动定性(自动去背景/自动剥离重叠峰/自动补偿逃逸峰/自动补偿谱图漂移)

照射径:1/3/5mm

定量分析:基础参数法/标准法/1点校正

计算机

CPU

PentiumIV1.8GHz以上

内存

256*以上

硬盘

20GB以上

OS

WindowXP

*器

17寸LCD

周围温度

10~35C(性能温度)/5~40C(动作温度)

周围湿度

5~31C时温度范围:*大相对湿度80%以下 /31~40C时温度范围:相对湿度50%以下

电源

AC110V/220V±10%、50/60HZ

消耗电力

1.3KVA以下(含计算机、LCD、打印机)

设备重量

约65kg(*桌子、计算机)

外形寸法

600(W)×545(D)×435(H)mm

 
应用领域
家电、电子、玩具、休闲和运动设备、自动售货机等
型号/规格

ValidatorⅢ

品牌/商标

智泰