芯片电路老化测试夹具

芯片电路老化测试夹具

该系列夹具供贴片封装的CMOS、PMOS集成电路的老化、测试、筛选作连结之用(间距1.27mm)。 产品广泛运用于航空航天、军工、科研院所、电子、通讯

产品型号及规格；

GLB-14J GLB-16J GLB-18J  GLB2-18J  

主要技术指标；
间距；1.27mm            环境温度；-55℃—+155℃    接触电阻；≤0.01欧