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全国24小时询价热线:400-705-0014薄膜测厚仪型号:M31/M312572库号:M312572
薄膜测厚仪M31/M312572更多信息>>>性能简介
本测厚仪适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度(不适用于压花薄膜 和薄片),符合GB-T6672-2001标准。
主要技术参数
测量范围0-10mm
分度值0.01mm
使用方法
1.测试前让表针对准0位,并经试行按动捏手几次回0位后即可测试。
2.使用时用大拇指压捏手使上测头升起,将被测件放于上下测头之间,轻放捏手使之接触,此时读数为被测物的厚度。
3.为使测试准确,可在同一被测物的不同位置进行测量,取其平均值。
薄膜测厚仪M31/M312572