供应I*-33C集成电路测试仪

*器件好坏判别：当不知被测器件的好坏时，仪器可判断其好坏。
*器件型号判别：当不知被测器件型号时，仪器可依据其逻辑功能来判断其型。
*器件老化测试：当怀疑被测器件的稳定性时，仪器可对其进行连续老化测试。
*器件代换查询：仪器可显示有无逻辑功能一致、引脚排列一致的器件型号。
*内部RAM数据修改：I*-33C可从键盘对自己内部RAM 中的数据进行随机修改。
*EPROM、EEPROM器件读入：I*-33C可将64K以内的EPROM、EEPROM器件内的数据进行读入并保存。*EPROM、EEPROM器件写入：I*-33C可将内部RAM中的数据写入到64K以内的EPROM、EEPROM器件中，并自动校验。

可 测 器 件（1300多种）

1.CMOS40系列：103种。
2.CMOSMC140系列：103种。
3.CMOS45系列：60种。
4.CMOSMC145系列：60种。
5.光耦合器系列：133种。
6.TTL74/54系列：714种。
7.TTL75/55系列：82种。
8.数码管系列： 0.5吋共阳[001]；共阴[002]；0.3吋共阳[003]；共阴[004]； 0.7吋共阳[005]；共阴[006]。 
9.常用RAM系列： 6
10.EEPROM系列：01
11.EPROM系列：12 
12.微机外围电路系列： 8728 Z8O*C(8O2)
13.常用单片机系列：2
14.其他系列： 192 2936MC) MC1416(2004) MC14160(40160) DG201 MC14161(40161) MC14162(40162) MC14163 (40163) TIL308 MC14189(75189) 2902(324) 8T26(826) AD7506