TST3406动态测试分析仪

　　TST3406每通道*高采样率40MSPS，AD为1*it，整机采用PC上插AD卡的结构形式。工作原理为同步并行设计，系统由统一时序控制器控制采集，每一通道都是*的AD和缓存，因此系统参数及技术指标的变化与通道无关。TST3406的通道数从4CH起，可积木式扩展。TST3406动态测试分析仪是一款设计经典且经过众多用户验证的*瞬态采集仪，*适合于捕较高频率的单次瞬态信号，如如局部放电、工程爆破、结构冲击、*炮膛压、静爆实验、发动机测试、风洞实验等测试领域。

技术特点

　　采用多层板技术和表贴工艺，*降低信噪比。
　　大规模复杂可编程逻辑器件（CPLD）设计，以及大量使用表贴器件，*系统集成度和*性。
　　关键分离元件采用*级器件。
　　32/64位PCI总线，数*输速率快。
　　与DAP3.x系统软件配合使用,全中文界面，方便实现采集/显示/处理/输出等强大功能。

技术指标

名称	参数
采样率	500Hz~40MHz(SPS)，多档可调
AD精度	1*it
输入量程	±100mV～±20V，8档程控可调
输入阻*	大于1MΩ
带宽(-3dB)(Hz)	DC 0～8MHz　　AC 10Hz～8MHz
存储深度	1M样点/CH （可扩展为4M/8M）
通道内波动	±0.2dB
通道隔离度	-100dB
误差限	±0.3%(FSR)
线性度	±0.2%(FSR)
触发方式	内触发、外触发、手动触发
输入方式	Q9单端
工作温度	0～50℃
电源	AC:220V/50Hz
设备类型	整机/便携机/卡式

系统软件

　　DAP3.x动态测试分析软件，自动对TST3000硬件进行检测，具有丰富的后处理功能。

供应TST3406动态测试分析仪