镀层厚度检测仪EDX-900_镀层厚度检测仪EDX-900批发

　　镀层厚度检测仪技术指标：

　　多镀层，1~6层

　　测试精度：0.01 um

　　元素分析范围从铝（Al）到铀（U）

　　元素含量分析范围为1PPm到99.99%

　　测量时间：10-60秒

　　多次测量重复性误差<0.1%

　　SDD探测器，能量分辨率为130±5电子伏特

　　X射线管50KV/1mA,寿命大于3万小时

　　高清CCD摄像头，精确监控位置

　　准直器尺寸0.1~1.0mm

　　多变量非线性去卷积曲线拟合

　　高性能FP/MLSQ分析

　　样品室尺寸 320x330x80 mm

　　仪器尺寸 500x380x355 mm

　　镀层厚度检测仪以光电倍增管等光探测器测量谱线不同波长位置强度的装置。其构造由一个入射狭缝，一个色散系统，一个成像系统和一个或多个出射狭缝组成。以色散元件将辐射源的电磁辐射分离出所需要的波长或波长区域，并在选定的波长上（或扫描某一波段）进行强度测定。分为单色仪和多色仪两种。

　　镀层厚度检测仪图谱界面：

　　软件支持无标样分析

　　集成了镀层界面和合金成分分析界面

　　采用先进的多种光谱拟合分析处理技术

　　分析精度可达到0.01um

　　公司立足高端、面向未来，致力于研发制造技术更高端、功能更全面、布局更完善的光电检测分析仪器，形成用于金属、非金属成分分析检测的ICP离子、激光、荧光、火花直读等品类系列及用于环境、食品、有机物成分检测分析的仪器的完整系列产品，让公司步入世界一流同类企业行列。

　　科研：

　　公司研发队伍强劲，并与美国密西根大学光谱领域专家、清华大学精密仪器系教授、韩国ISP公司携手合作，以欧美现有技术为基础，在X射线光谱仪核心技术上取得重大突破的同时，还拥有多项独有的专利技术和差异化产品，多项核心技术处于国际领先水平。