镀层厚度测量仪|镀层厚度测量批发价|优质

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  镀层厚度测量仪产品信息:

  镀层厚度测量仪是一种能分析物质所含元素的一种仪器,能利用先进的技术精密地分析物质,已广为使用。可检测普碳钢、低合金钢、高合金钢、生铸铁、球铁、合金铸铁等多种材料中的Si、Mn、P、Cr、Ni、Mo、Cu、Ti等多种元素。每个元素可储存99条工作曲线,品牌电脑微机控制,全中文菜单式操作。可以满足冶金、机械、化工等行业在炉前、成品、来料化验等方面对材料多元素分析的需要。

  镀层厚度测量仪技术指标:

  元素分析范围从钠(Na)到铀(U)

  元素含量分析范围为1PPm到99.99%

  测量时间:60-300秒

  多次测量重复性误差<0.1%

  SDD探测器,能量分辨率为130±5电子伏特

  X射线管50KV/1mA,寿命大于3万小时

  温度适应范围为15℃至30℃

  多变量非线性去卷积曲线拟合

  高斯平滑滤波校正

  高性能FP/MLSQ分析

  样品室尺寸 190x190x44 mm

  仪器尺寸 500x380x355 mm

  镀层厚度测量仪原理:

  根据现代光谱仪器的工作原理,光谱仪可以分为两大类:经典光谱仪和新型光谱仪。经典光谱仪器是建立在空间色散原理上的仪器;新型光谱仪器是建立在调制原理上的仪器。经典光谱仪器都是狭缝光谱仪器。调制光谱仪是非空间分光的,它采用圆孔进光。

  根据色散组件的分光原理,光谱仪器可分为:棱镜光谱仪,衍射光栅光谱仪和干涉光谱仪。光学多道分析仪OMA (Optical Multi-channel Analyzer)是近十几年出现的采用光子探测器(CCD)和计算机控制的新型光谱分析仪器,它集信息采集,处理, 存储诸功能于一体。由于OMA不再使用感光乳胶,避免和省去了暗室处理以及之后的一系列繁琐处理,测量工作,使传统的光谱技术发生了根本的改变,大大改善了工作条件,提高了工作效率;使用OMA分析光谱,测量准确迅速,方便,且灵敏度高,响应时间快,光谱分辨率高,测量结果可立即从显示屏上读出或由打印机,绘图仪输出。它己被广泛使用于几乎所有的光谱测量,分析及研究工作中,特别适应于对微弱信号,瞬变信号的检测。

型号/规格

EDX-1000

品牌/商标

SENSE/善时