镀层厚度荧光光谱仪|镀层厚度荧光光谱仪厂家|直销商

　　镀层厚度荧光光谱仪产品简介：

　　镀层厚度荧光光谱仪以光电倍增管等光探测器测量谱线不同波长位置强度的装置。其构造由一个入射狭缝，一个色散系统，一个成像系统和一个或多个出射狭缝组成。以色散元件将辐射源的电磁辐射分离出所需要的波长或波长区域，并在选定的波长上（或扫描某一波段）进行强度测定。

　　镀层厚度荧光光谱仪系列：

　　iEDX-150T

　　采用非真空样品腔；

　　专业用于金属电镀镀层分析；

　　可同时分析镀层中的合金成分比列。

　　技术指标：

　　多镀层，1~6层

　　测试精度：0.01 um

　　多次测量重复性误差<0.1%

　　元素分析范围从铝（Al）到铀（U）

　　测量时间：10-60秒

　　Si-PIN探测器，能量分辨率为149电子伏特

　　微焦X射线管50KV/1mA,钨靶，焦斑尺寸 75um, 寿命大于3万小时

　　7个准直器及6个滤光片自动切换

　　XYZ三维移动平台，最大荷载为5公斤

　　高清CCD摄像头，精确监控位置

　　多变量非线性去卷积曲线拟合

　　高性能FP/MLSQ分析

　　平台移动范围 300（X）x300（Y）x25 （Z）mm

　　镀层厚度荧光光谱仪厂家科研成果：

　　公司研发队伍强劲，并与美国密西根大学光谱领域专家、清华大学精密仪器系教授、韩国ISP公司携手合作，以欧美现有技术为基础，在X射线光谱仪核心技术上取得重大突破的同时，还拥有多项独有的专利技术和差异化产品，多项核心技术处于国际领先水平。