x-荧光光谱仪|x-荧光光谱仪型号|优质现货

　　x-荧光光谱仪产品简介：

　　x-荧光光谱仪以光电倍增管等光探测器测量谱线不同波长位置强度的装置。其构造由一个入射狭缝，一个色散系统，一个成像系统和一个或多个出射狭缝组成。以色散元件将辐射源的电磁辐射分离出所需要的波长或波长区域，并在选定的波长上（或扫描某一波段）进行强度测定。分为单色仪和多色仪两种。

　　x-荧光光谱仪技术指标：

　　元素分析范围从铝（Al）到铀（U）

　　元素含量分析范围为1PPm到99.99%

　　测量时间：60-300秒

　　多次测量重复性误差<0.2%

　　SDD探测器，能量分辨率为130±5电子伏特

　　X射线管50KV/1mA,寿命大于3万小时

　　温度适应范围为15℃至30℃

　　多变量非线性去卷积曲线拟合

　　高斯平滑滤波校正

　　高性能FP/MLSQ分析

　　样品室尺寸 320x330x80 mm

　　仪器尺寸 400x350x450 mm

　　x-荧光光谱仪技术原理：

　　受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后，仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。

　　元素的原子受到高能辐射激发而引起内层电子的跃迁，同时发射出具有一定特殊性波长的X射线，根据莫斯莱定律，荧光X射线的波长λ与元素的原子序数Z有关，其数学关系如下：

　　λ=K（Z? s） ?2

　　式中K和S是常数。

　　而根据量子理论，X射线可以看成由一种量子或光子组成的粒子流，每个光具有的能量为：

　　E=hν=h C/λ

　　式中，E为X射线光子的能量，单位为keV;h为普朗克常数；ν为光波的频率；C为光速。

　　因此，只要测出荧光X射线的波长或者能量，就可以知道元素的种类，这就是荧光X射线定性分析的基础。此外，荧光X射线的强度与相应元素的含量有一定的关系，据此，可以进行元素定量分析。