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产品属性
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荧光光谱仪产品简介:
荧光光谱仪参数齐全,该产品以光电倍增管等光探测器测量谱线不同波长位置强度的装置。其构造由一个入射狭缝,一个色散系统,一个成像系统和一个或多个出射狭缝组成。以色散元件将辐射源的电磁辐射分离出所需要的波长或波长区域,并在选定的波长上(或扫描某一波段)进行强度测定。分为单色仪和多色仪两种。
荧光光谱仪技术指标:
多镀层,1~6层
测试精度:0.01 um
元素分析范围从铝(Al)到铀(U)
元素含量分析范围为1PPm到99.99%
测量时间:10-60秒
多次测量重复性误差<0.1%
SDD探测器,能量分辨率为130±5电子伏特
X射线管50KV/1mA,寿命大于3万小时
高清CCD摄像头,精确监控位置
准直器尺寸0.1~1.0mm
多变量非线性去卷积曲线拟合
高性能FP/MLSQ分析
样品室尺寸 320x330x80 mm
仪器尺寸 500x380x355 mm
荧光光谱仪镀层厚度分析软件:
采用业界最先进的基本参数法(FP),可对镀液进行定量分析
可分析1~6层、以及合金镀层成分
可同时分析20种元素,频谱比较、 减法运算和配给
智能背景滤波器
有多种分析计算数学模型,方便对不同材料,不同样品的分析测量
可制作多条工作曲线,各个曲线测试条件独立,方便了测试
iEDX—150WT
SENSE/善时