深圳凯智通 是中国*家*设计制造*、*Burn-in(烧录座) & Test Socket(测试座)和BGA/QFN IC测试治具的供应商,获得多项中国*发明*和适用新型*。
内存条测试治具产品特点及性能参数:
◆采用手动翻盖式结构,操作方便;
◆上盖的IC压板采用摆动式结构,下压平稳,*IC的压力均匀,不移位;
◆探针的*头形突起能刺破焊接球的氧化层,接触*,而不会损坏锡球;
◆*的定位槽,*IC定位*,测试效率高;
◆测试准确性高,大大减少误判率;
◆采用*双头针,探针可更换,维修方便,成本低;
◆产品通用程度高,只要换IC限位框,即可测试*内存IC(宽度≤12MM);
◆有球无球均可测试(*更换上盖的IC压板);
◆测试寿命长,*测试10万次以上;
◆内置4个EEPROM,通过一个4位开关切换,可存储4组SPD,方便测试,节约时间;
◆*缘材料:FR4、Torlon、PEI、PEEK;
◆测试频率可达9.3GHz;
◆可以*提供相关的技术支持。
中国**(部分):
*号:ZL2;ZL2.X;ZL2.7;ZL2.X;ZL 2.7;ZL 2.4;ZL 2.0