供应创想世纪YB6500大功率半导体分立器件测试仪

YB6500产品介绍

YB6500测试系统是本公司推出的一款先进的大功率半导体分立器件和功率半导体模块测试系统。

本系统适合各大研究所做元器件检验以及在线开发器件做生产测试。系统可扩展性强，通过选件可以提高电压、电流的测试能力和增加测试品种范围。自动快速测试可以满足用户大生产需要，故障率低也保证了用户的生产效率。在PC窗口提示下输入被测器件的测试参数即可完成填表编程，操作人员不需具备专业计算机编程语言知识，使用简捷方便。系统采用带有开尔文感应结构的测试插座，自动补偿由于系统内部及测试电缆长度引起的任何压降，保证各种情况下测试结果的准确可靠。

系统提供与机械手、探针台、电脑的连接接口，可以支持各种不同辅助设备的相互连接使用。

基本配置  

   1、主极电压： 0---2000V

   2、电压分辨率：1mV  

   3、主极电流： 0---50A。

      可扩展到：100A,200A,400A ，500,600A,800A,1000A，1300A。

   4、电流分辨率：1nA   可扩展为10pA 

   5、测试精度：0.2%+2LSB

   6、测试速度：0.5MS/参数

统测试功能

YB6500系统是专为测试半导体分立器件和大功率半导体模块器件而研发设计。它具有十分丰富的编程软件和强大的测试能力，能够真实准确测试以下类型的半导体器件以及相关器件组成的组合器件、器件阵列： 

测试参数表

    漏电参数： IR、  ICBO、 LCEO/S/X、IDSS/X、 IDOFF、 IDRM、 IRRM、ICOFF、IDGO、ICES、IGESF、IGESR、IEBO、 IGSSF、 LGSSR、IGSS、IGKO、 IR(OPTO)

    击穿参数： BVCEO   BVCES、BVDSS、 VD、  BVCBO、、 VDRM、 VRRM、 VBB、BVR 、  VD+、VD-、BVDGO、BVZ、BVEBO、 BVGSS、 BVGKO

    增益参数： hFE、CTR、gFS、VGSTH、VGETH

    导通参数:  VCESAT、VBESAT、VBEON、 VF、VT、VT+、VT-、 VON、VDSON、VDON、VGSON、VF(Opto-Diode)、VGSTH、VGETH、VTM、VSD、IDON、VSAT、IDSS、IDON、 Notch = IGT1，IGT4、ICON、VGEON、VO(Regulator)、IIN(Regulator)

    关断参数:  VGSOFF

    触发参数:  IGT、VGT

    保持参数:  IH、IH+、IH-

    锁定参数： IL、IL+、IL-

    混合参数:  RDSON、GFS、Input Regulation、Output Regulation

    间接参数:  IL