产品详情

HP系列四探针探头

地区：北京 北京市
认证： 无

北京卓乐康科技有限公司

普通会员

全部产品 进入商铺
 ZLKHP系列四探针探头是一种专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的方块电阻测试仪配用的四探针测试探头，可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)，金属薄膜……等同类物质的薄层电阻。
 
◆ 特性及规格：
 
1
适用范围

可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)，金属薄膜……等同类物质的薄层电阻

类型

HP系列四探针探头

品牌/商标

卓乐康

型号/规格

ZLKHP-501型

探针间距

1mmm、1.59mm、3.8m；偏差≤2%