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Q/YTDZ—2009

HC-49US石英晶体谐振器 

1范围

本标准规定了HC-49US石英晶体谐振器的技术要求、试验方法、检验规则及包装、储存、运输的要求。

本标准适用于计算机等电子设备及移动通信设备中频率控制用电阻焊封装石英晶体谐振器。

2规范性引用文件

下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件,其随后*的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准,鼓励根据本标准达成协议的各方研究成果可使用这些文件的*新版本。凡是不注日期的引用文件,*新版本适用于本标准。

GB191-2000包装储运图示标志

GB/T2828.1-2003计数抽样检验程序第1部分:按接收质量限(AQL)检索的逐批检验抽样计划

GB/2423.23-1995电工电子产品环境试验:实验Q:密封

GB/2423.8-1995电工电子产品环境试验第二部分:试验Ed:自由跌落

GB2423.28-2005电工电子产品环境试验第二部分:试验方法试验T:锡焊

GB2423.3-1993电工电子产品基本环境试验规程试验Ca:恒定湿热试验方法

IEC122-1---1976频率控制与选择用石英晶体元件部分:标准值和试验条件

3结构尺寸

本产品采用HC-49US晶体盒,外形尺寸如图1规定

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

                                                                               

1

 

Q/YTDZ01—2009

4  技术要求

技术要求见表1

表1HC-49US

频率范围

3.6MHZ-30MHZ

20MHZ-40MHZ

27MHZ-40MHZ  

振动模式

AT基频

BT基频

3次泛音

谐振电阻Ω

30Ω-150Ω

40Ω

60Ω-120Ω

频率偏差(25℃)

&plu*n;10ppm--&plu*n;50ppm

温度范围

-20-- 70℃

温度偏差

&plu*n;10ppm--&plu*n;50ppm

静电容

≤7PF   MAX

负载电容

8PF—50PF   or    Series

激励电平

0.1Mw—2mW

*缘电阻

>500兆欧/DC100V&plu*n;15V

标志

标志清晰牢固

质量

<1克

外观质量

涂覆层完整,无凹陷、凸起、腐蚀及污垢,引线平行且与基座垂直

密封性

漏率小于1﹡10-9bar.cm²/S

振动(10HZ—55HZ)

允许频率变化&plu*n;10ppm

电阻变化≤30%

跌落试验

允许频率变化&plu*n;10ppm

电阻变化≤30%

可焊性

新锡层面积95%以上

引线强度

无可见伤痕及断裂

恒定湿热48h

允许频率变化&plu*n;10ppm

电阻变化≤20%

*缘电阻应大于500兆欧

老化

&plu*n;10pm

 

"
加工定制

品牌/商标

厂家生产16M49U/S晶振

型号/规格

49S

种类

晶振

标称频率

16.000(MHz)

调整频差

20PPM(MHz)

温度频差

30PPM(MHz)

总频差

30PPM(MHz)

负载电容

20(pF)

负载谐振电阻

30(Ω)

激励电平

100(mW)

基准温度

25(℃)

*损耗

0(dB)

阻带衰减

0(dB)

输入阻*

0(kΩ)

输出阻*

0(kΩ)