老化夹具--扁平封装IC测试老化--高温125度--8线 24线

一：GLB系列扁平老化夹具适用范围：

      FP及 CFP封装的IC电路测试老化                          

二： 产品型号说明：

         GLB-XX-1.27（1.25）-4

         GLB---产品主称代号线

         4------表示四侧引线线，双侧引线不标示线线线

         XX----为产品总引线数，公司常规产品：8线14线16线18线24线

        1.25及1.27----引线中心距，1.25标示，不标示为1.27

三：产品使用条件：

        老化温度：-55度-- 125度

        环境温度：-20度-- 40度

        振      动： ≤50Hz     

        冲      击： ≤5G

四： 产品性能：

       *缘电阻： ≥500MΩ

       接触电阻： ≤0.02Ω

       寿      命： ≥5000次

五：销售及售后： 产品保质保量，发货及时快速，售后三包一年（退或换时产品无使用痕迹）

一 ： 产品型号说明：

         GLB-4-1.27（1.25）-24

         GLB---产品主称代号

         4------表示四侧引线，双侧引线不标示

         24----为产品总引线数

        1.25及1.27----引线中心距，1.25标示，不标示为1.27

二：产品使用条件：

        老化温度：-55度-- 125度

        环境温度：-20度-- 40度

        振      动： ≤50Hz     

        冲      击： ≤5G

三： 产品性能：

       *缘电阻： ≥500MΩ

       接触电阻： ≤0.02Ω

       寿      命： ≥5000次

四：销售及售后： 产品保质保量，发货及时快，售后三包一年（退或换时产品无使用痕迹）

一 ： 产品型号说明：

         GLB-1.27（1.25）-XX

         GLB---产品主称代号

         XX----为产品总引线数

        1.25及1.27----引线中心距，1.25标示，不标示为1.27

二：产品使用条件：

        老化温度：-55度-- 125度

        环境温度：-20度-- 40度

        振      动： ≤50Hz     

        冲      击： ≤5G

三： 产品性能：

       *缘电阻： ≥500MΩ

       接触电阻： ≤0.02Ω

       寿      命： ≥5000次

四：销售及售后： 产品保质保量，发货及时快，售后三包一年（退或换时产品无使用痕迹）