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II类介质: 具有较高的介电常数,容量可做到比I类电容器高,具有稳定的温度特性。 适用于容量范围广,稳定性要求不高的电路中,如隔直、耦合、旁路及鉴频等电路中。
电器类别 | 检测项目 | ||||
使用温度 | 静电容量 | 损耗 | *缘电阻 | 耐电压 | |
X7R | _55℃~ 125℃ | 以25℃&plu*n;2℃、 1KHZ、1.0V测试时,容量在误差允范围之内;J、K | 以25℃&plu*n;2℃、1KHZ、 1.0V测试时,损耗*规定标准; DF≤3.5% | 施加电压U=UR,在充电电流小50MA,测试时间60S内,IR*规定标准: C≤25NF I.R.≥4000MΩ C>25NF I.R.≥100Ω×F | 测试电压U=2.5UR(充放电电流小50MA,持续时间1~5S,无异常) |
50(V)
小功率
固定
0.01(uF)(uF)
低频
耦合
0.1UF100V
-55℃~+125℃
&plu*n;10(%)
同向引出线
1(mΩ)
FH/风华
100(V)
DF≤3.5%
I.R.≥4000MΩ(mΩ)
独石
叠片形