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产品属性
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ON Semiconductor
制造商零件编号
NC7WB66K8X
类别 集成电路(IC)
接口 - 模拟开关,多路复用器,多路分解器
制造商 ON Semiconductor
系列 -
包装 ? 带卷(TR) ?
零件状态 在售
开关电路 SPST - 常开
多路复用器/解复用器电路 1:1
电路数 2
导通电阻(最大值) 10 欧姆
通道至通道匹配(ΔRon) 200 毫欧
电压 - 电源,单(V+) 1.65 V ~ 5.5 V
电压 - 电源,双(V±) -
开关时间(Ton, Tof)(最大值) 3.2ns,4.1ns
-3db 带宽 300MHz
电荷注入 -
沟道电容 (CS(off),CD(off)) 5pF
电流 - 漏泄(IS(off))(最大值) 100nA
串扰 -70dB @ 10MHz
工作温度 -40°C ~ 85°C(TA)
封装/外壳 8-VFSOP(0.091",2.30mm 宽)
供应商器件封装 US8
基本零件编号 NC7WB66
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失效分析基本概念
定义:对失效电子元器件进行诊断过程。
1、进行失效分析往往需要进行电测量并采用先进的物理、冶金及化学的分析手段。
2、失效分析的目的是确定失效模式和失效机理,提出纠正措施,防止这种失效模式和失效机理的重复出现。
3、失效模式是指观察到的失效现象、失效形式,如开路、短路、参数漂移、功能失效等。
4、失效机理是指失效的物理化学过程,如疲劳、腐蚀和过应力等。
失效分析的一般程序
集成电路
8-VFSOP
接口 - 模拟开关,多路复用器,多路分解器
ON