82K 0603 0.1%精密电阻 /千分之一贴片电阻

0603 50PPM温漂贴片电阻,0805 25PPM温漂系数贴片电阻,0402千分之一精度电阻,0603 千分之五精度电阻

监控技术　在真空蒸发过程中需要对膜的厚度进行精确的监控。①电阻率测定法：这种方法适用于淀积导体薄膜时的监控。②光学方法:在淀积薄膜的过程中,同时测定膜的某一光学性质，如光的透射率、反射率或干涉等,借此可对薄膜厚度进行监控。图2为测量透射率的装置原理图，厚度通过光电接收器进行监控。③石英晶体振荡法：随着石英晶体表面电极上淀积层的增厚，晶体的振荡频率发生变化。检测晶体频率的偏移，即可确定淀积薄膜的厚度。如果在测量电路中加以微分处理，则可获得薄膜的淀积速率。　除这些方法外还有一些其他方法。例如，可以通过蒸发气体离子化，测出离子流；而根据离子流的变化可确定蒸发速率，并从蒸发时间换算出淀积膜的厚度等。