长期供应贴片铝电解电容（品质保障）

金日盛电子元件经营部 《*优势》：

金日盛电子有限公司，自2002年成立以来，经过多年的市场销售,有着丰富的资源,应客户需求为客户供应:贴片电容、贴片高压电容，贴片电阻、贴片铝电解、贴片钽电容、二三*管等系列相关电子产品。
目前已有多个销售网点**各地，东莞*安金日盛电子元件经营部是其中之一，在业内一直处于佼佼者的*。

已取得TDK，华新科，SAMSUNG，长电的授权代理。依托渠道优势，同时分销MURATA，YAGEO，风华，三环，台湾立隆，ST，*X，KEMET，NEC等国内外知名品牌电子元器件。

金日盛公司积*面对市场及客户的多方位要求，坚持以*好的品牌和*具竞争力的价格销售电子*件，为客户提供多元化的服务，务求充分满足客户的要求。

金日盛电子-贴片铝电解电容

贴片铝电解电容的介质*用途、包装、*售后服务
介质 相对介电常数 介质 相对介电常数
铝氧化膜 7 ~ 8 陶瓷 10 ~ 120
薄膜树脂 3.2 聚苯乙烯 2.5
云母 6 ~ 8 钽氧化膜 10 ~ 20 
虽然铝电解电容器*小，但它具有相对较大的电容量，因为其通过电化学腐蚀后，电*箔的表面积被扩大了，并且它的介质氧化膜*薄。图1-2形象地描述了铝电解电容器的基本组成。
1-2电解电容器的等效电路
 
电容器的等效电路图可由下图2表示
R1：电*和引出端子的电阻；
R2：阳*氧化膜和电解质的电阻；
R3：损坏的阳*氧化膜的*缘电阻；
D1：具有单向导电性的阳*氧化膜；
C1：阳*箔的容量；
C2：阴*箔的容量
L ：电*及引线端子等所引起的等效电感量
1-3电解电容器基本的电性能
1-3-1 电容量
 电容器的由测量交流容量时所呈现的阻*决定。交流电容量随频率、电压以及测量方法的变化而变化。电解电容的容量随频率的增加而减小。和频率一样，测量时的温度对电容器的容量有*的影响。随着测量温度的下降，电容量会变小。另一方面，直流电容量，可通过施加直流电压而测量其电荷得到，在常温下容量比交流稍微的大一点，并且具有更*的稳定特性。
1-3-2 Tan δ（损耗角正切）
在等效电路中，串联等效电阻*R同容*1/ wC之比称之为Tan δ，其测量条件与电容量相同。tan δ =R*R/ (1/wC)= wC R*R
其中：R*R=*R（120 Hz）   w=2πf    f=120Hz   tan δ随着测量频率的增加而变大，随测量温度的下降而*。阻*（Z）：在特定的频率下，阻碍交流电通过的电阻就是所谓的阻*（Z）。它与容量以及电感密切相关，并且与等效串联电阻*R也有关系。具体表达式如下：
 
其中：Xc=1/ wC=1/ 2πfC     XL=wL=2πfL
漏电流：电容器的介质对直流电具有很大的阻碍作用。然而，由于铝氧化膜介质上浸有电解液，在施加电压时，重新形成以及*氧化膜的时候会产生一种很小的称之为漏电流的电流，刚施加电压时，漏电流较大，随着时间的延长，漏电流会逐渐减小并*终保持稳定。漏电流*间变化特征图测试温度和电压对漏电流具有很大的影响。漏电流会随着温度和电压的升高而*。
电容在电路中实际要承受的电压不能*过它的耐压值。在滤波电路中，电容的耐压值不要小于交流*值的1.42倍。使用电解电容的时候，还要注意正负*不要接反。不同电路应该选用不同种类的电容。揩振回路可以选用云母、高频陶瓷电容，隔直流可以选用纸介、涤纶、云母、电解、陶瓷等电容，滤波可以选用电解电容，旁路可以选用涤纶、纸介、陶瓷、电解等电容。 电容在装入电路前要检查它有没有短路、断路和漏电等现象，并且核对它的电容值。安装的时候，要使电容的类别、容量、耐压等*号容易看到，以便核实。
电解电容器的检测
A、因为电解电容的容量较一般固定电容大得多，所以，测量时，应针对不同容量选用合适的量程。根据经验，一般情况下，1～47μF间的电容，可用R×1k挡测量，大于47μF的电容可用R×100挡测量。
B、将万用表红表笔接负*，黑表笔接正*，在刚接触的*，万用表指针即向右偏转较大偏度(对于同一电阻挡，容量越大，摆幅越大)，接着逐渐向左回转，直到停在某一位置。此时的阻值便是电解电容的正向漏电阻，此值略大于反向漏电阻。实际使用经验表明，电解电容的漏电阻一般应在几百kΩ以上，否则，将不能正常工作。在测试中，若正向、反向均无充电的现象，即表针不动，则说明容量消失或内部断路；如果所测阻值很小或为*，说明电容漏电大或已击穿损坏，*使用。
C、对于正、负*标志不明的电解电容，可利用上述测量漏电阻的方法加以判别。即先任意测一下漏电阻，记住其大小，然后交换表笔再测出一个阻值。两次测量中阻值大的那一次便是正向接法，即黑表笔接的是正*，红表笔接的是负*。
D、使用万用表电阻挡，采用给电解电容进行正、反向充电的方法，根据指针向右摆动幅度的大小，可估测出电解电容的容量。

铝电解电容器的寿命计算方法
寿命估算(Life Expectancy)：电解电容器在*高工作温度下，可持续动作的时间。
Lx=Lo*2(To-Ta)/10
Lx=实际工作寿命
Lo=*寿命
To=*高工作温度(85℃or105℃)
Ta= 电容器实际工作周围温度
Example： 规范值105℃/1000Hrs
65℃寿命推估：Lx=1000*2(105-65)/10
实际工作寿命：16000Hrs
高温负荷寿命(Load Life)将电解电容器在*高工作温度下，印加额定工作电压，经一持续规定完成时间后，须*合下列变化：Δcap： 试验前之值的20%以内
tanδ： 初期特性规格值的200%以下
LC ： 初期特性规格值以下
高温放置寿命(Shelf Life)：将电解电容器在*高工作温度下，经一持续规定完成时间后，须*合下列变化：Δcap: 试验前之值的20%以内
tanδ:初期特性规格值的200%以下
LC:初期特性规格值以下
高温充放电试验(Charge/Discharge Test)将电解电容器在*高工作温度下，印加额定工作电压，经充电30秒后再放电330秒为一cycle，如此经1,000 cycles后，须*合下列变化：Δcap : 试验前之值的10%以内
tanδ : 初期特性规格值的175%以下
LC : 初期特性规格值以下
涟波负荷试验(Ripple Life)将电解电容器在*高工作温度下，印加直流电压及*大涟波电流（直流电压 *大涟波电压峰值=额定工作电压），经一持续规定完成时间后，须*合下列变化：Δcap : 试验前之值的20%以内
tanδ : 初期特性规格值的200%以下
LC : 初期特性规格值以下
常用电解电容公式
容* : XC=1/(2πfC) 【Ω】
感* : XL=2πfL 【Ω】
阻* : Z=√*R2 (XL-XC)2 【Ω】
涟波电流 : IR=√(βA△T/*R) 【mArms】
功率 : P=I2*R 【W】
谐振频率 : fo=1/(2π√LC) 【Hz】

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