P*老化试验机/P*老化试验箱
地区:广东 东莞
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无
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P*试验机*生产厂家,价格面议
pct试验机 一、性能: | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
加速寿命试验的目的是*环境应力(如:温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷.等),加快试验过程,缩短产品或系统的寿命试验时间。 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
用于调查分析何时出现电子元器件,和机械*件的摩耗和使用寿命的问题,使用寿命的故障分布函数呈什么样的形状,以及分析失效率上升的原因所进行的试验。 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
随着半导体*性的*,目前大多半导体器件能承受长期的THB试验而不会产生失效,因此用来确定成品质量的测试时间也相应增加了许多。为了*试验效率、减少试验时间,采用了*新的压力蒸煮锅试验方法。压力蒸煮锅试验方法主要分成两种类型:即P*和USP*(HAST)现在压力蒸煮锅试验作为湿热加速试验被IEC(国际电工委员会)所标准化。 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
注意事项:USP*现在称为HAST(高度加速应力试验) | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
二、适用行业: | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
广泛应用于半导体,多层线路板,IC,LCD,磁铁等产品之密封性能的检测,测试其制品的耐压性,气密性。
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是
kqtest
K-P*-25
250×300 mm(φ×D直径×深度)圆形试验箱
490×430×610(mm)
200(Kg)
检测材料的耐老化
试验机