供应德国KD卡尔德意志LEPTOSKOP2042涂层测厚仪 分体式镀层涂层测厚仪

LEPTOSKOP 2042涂层测厚仪

德国KD公司致力于研发和制造无损检测产品-65年

按客户需求量身定做的涂层测厚仪

多样的探头,可满足不同形状工件的涂层厚度的测量  

中国设有售后服务中心，维修无后顾之忧  

 LEPTOSKOP 2042涂层测厚仪

涂层测厚仪LEPTOSKOP 2042具有精准的测量技术和简单的操作方法，是万能的涂层测厚仪。通过解锁代码，可以使仪器在现场迅速的升级。

可定制带系统的涂层测厚

涂层测厚仪LEPTOSKOP 2042 利用磁感应法（DIN EN ISO 2178）测量铁磁基体上的非铁磁层的厚度并且利用涡流法（DIN EN ISO 2360）测量非铁磁材料上覆盖的非导电层厚度。

仪器将一种把测厚值显示为模拟指针的工具和近似WINDOWS一样的文件管理系统相结合，同时提供10种可供任意选择的语言，以满足客户的各种需求,是一种经济的产品，电池寿命长，可以连续工作100小时以上。仪器记录工作时间和测量数量，因此一些重要的参数可以被保存。

彩色的橡胶皮套也是在供货范围内，可以保护仪器在工业环境中意外滑落不受损害。

特点概述:

大图解屏幕 48 mm x 24 mm, 有背景灯

校准选项：

l 出厂时已校准，立即可用

l 在未知涂层上校准

l 零校准

l 在无涂层的基体上一点和多点校准

l 在有涂层的基体上校准 

校准数据可以别单独存储在独立的校准档案中，也可以随时调出

可选择的显示模式，以最佳形式去完成测量任务

输入和极限监视*

在Windows下有简单的存储读数档案管理

可用的电脑软件STATWIN 2002 和EasyExport

统计：

l 可统计评估999个读数

l 最小值、最大值、测量个数、标准偏差和极限监视

l 局部厚度和平局膜层厚度（DIN EN ISO 2808）

l 在线统计，所有统计值概括

LEPTOSKOP 2042 有3种配置级别：
基本型 – 证明质量的基本特征                               

高级型 - 附加统计评估

专业型 - 统计评估和数据存储

如果针对新的测量要求，而需要仪器增加新的功能，可以在任何时候把仪器升级为高级型和/或专业型。升级只需在现场输入解锁代码，“统计”和/或“统计& 数据存储”，便可完成；而不需要把仪器反厂或重新购买新机器。

                                                                                             通过解锁代码可以很方便的升级

技术参数：