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inTEST Temptronic ATS-545-M 高低温冲击测试机
上海伯东 inTEST 美国进口高低温冲击测试机中国总代理: Temptronic ThermoStream ATS-545-M 热销款高低温冲击测试机。温度冲击范围:-80°C 至 +225°C;旋钮式控制面板,支持测试数据存储。inTEST ATS-545-M 是旧款高低温测试机 Temptronic TP04310 和 Thermonics T-2820 全新升级款!~
高低温冲击测试机应用: 协助企业完成电子元件电性能测试、可靠性测试、高低温循环测试和高低温冲击测试,例如集成电路 IC 卡温度测试、半导体芯片高低温测试、PCB 电路板高低温测试、光通讯器件高低温测试 (Flash、EMMC、transciever) 等等任何您需要测试的地方!
高低温冲击测试机 Temptronic ThermoStream ATS-545-M 技术参数:
型号 |
温度范围 |
输出 |
变温速率 |
温度 |
温度显示分辨率 |
温度 |
远程 |
ATS-545-M |
-80 至 +225 |
4 至 18 scfm |
-55至 +125°C <10 s |
±1℃ |
±0.1℃ |
T型或 |
IEEE 488 |
inTEST 高低温冲击测试机功能特点:
自动升降温:冷冻机 (Chiller) 特殊设计,制冷剂不含氟利昂、安全无毒、不易燃,有效保护环境;不需要液态氮气 (LN2) 或液态二氧化碳 (LCO2) 冷却
旋钮式控制面板
温度显示精度:±1℃ (通过美国国家标准与技术研究院 NIST 校准)
过热温度保护:出厂设置温度 +230°C,操作员可根据实际需要设置高低温限制点。
加热模式下,冷冻机可切换成待机模式,以减少电力消耗
大气流量输出,变温速率快,节省操作时间,热流罩提供局限性的温度测试环境,特别适合温度冲击测试;专利设计防止水气在DUT上凝结
与传统高低温测试箱、温湿度测试箱对比,inTEST ThermoStream 高低温测试机主要优势:
1、变温速率更快
2、温控精度:±1℃
3、实时监测待测元件真实温度,可随时调整冲击气流温度
4、针对PCB 电路板上众多元器件中的某一单个 IC (模块),可单独进行高低温冲击,而不影响周边其它器件
5、对测试机平台 load board 上的 IC 进行温度循环 / 冲击;传统高低温箱无法针对此类测试。
6、对整块集成电路板提供精确且快速的环境温度。
温度冲击测试方法:
inTEST-Temptronic 高低温冲击测试机提供两种检测模式 Air Mode 和 DUT Mode
通过热流罩或测试腔将被测 IC 与周边环境隔离,然后对 IC 循环喷射冷热气流,使IC 温度短时间发生急剧变化,从而完成温度循环和温度冲击的测试。
inTEST 高低温冲击测试机 ATS-545-M 基本参数
尺寸 cm |
款x深x高 61 X 72.4 X 108 |
重量kg |
236 |
最高 cm |
160 |
最高操作高度 cm |
130.3(可选的扩展高度 188) |
操作高度 cm |
69.1(可选的扩展高度 81.3) |
噪音 |
< 65 dBA |
提供 inTEST -Temptronic ATS-545-M 机械手臂版本和 ATS-545-T 测试腔版本供您选择!
上海伯东客户 inTEST 高低温测试机光通信收发器(transciever)温度测试案例:
inTEST ThermoStream 已全面取代 Temptronic 和Thermonics
Temptronic 创立于 1970 年,在 2000 年被 inTEST 收购,成为在美国设立的超高速温度环境测试机的首家制造商。而 Thermonics 创立于1976年,在 2012 年被 inTEST 收购,使 inTEST 更强化高低温循环测试以及温度冲击测试领域的实力。在 2013 年 inTEST Thermal Solutions 用崭新的研发技术发展出独创的温度环境测试机,将 Temptronic TPO 系列以及 Thermonics PTFS 系列整合进化成 inTEST ThermoStream ATS 超高速温度环境测试系列产品。上海伯东作为 inTEST 中国总代理,全权负责 inTEST 新品销售和售后维修服务。
上海伯东版权所有,翻拷必究!
上海伯东主营真空品牌:德国 Pfeiffer 真空设备;美国 Brooks Polycold 冷冻机;美国 KRI 考夫曼离子源;美国 HVA 真空闸阀:美国 inTEST(Temptronic)高低温循环试验机;日本 NS 离子蚀刻机等。
Temptronic ThermoStream
Temptronic ThermoStream
-80°C 至 +225°C
电子芯片高低温测试,集成IC 温度冲击测试