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日本凯特KEET膜厚计LH-373型 号 LZ-373
LE-373 LH-373
测定方法 电磁式 高频涡流式
测定对象 磁性金属上非磁性涂度层 非磁性金属上绝缘层
测量范围 0~2500um/0~100mils 0~1200um/0~48mils
测量精度 <50um±1um >50<1000um±2% >1000um±3%
测试面积 ≥5x5mm
分辨率 ≤100um 0.1um > 100um 1um
数据统计 测试次数/最大值/最小值/平均值/标准偏差,可存储数据达39000个
附加功能 1、单位选择(公英制);2、程序选择;3、数据删除;4、四种语言选择;5、日期时间;6、手自动开关机;
7、背景灯光选择和时间设定;8、打印功能;9、通道选择;10、数据输出;11、可设定上/下限数值
信号输出 电脑输出(USB或者RS-232C)或者连接打印机(RS-232C)
附属品 探头/基体/校正标准片/电池/V型块//皮套/合格证/说明书
选配件 L型探头、标准片、打印机、管理软件、测试支架
体积/重量/电源 75(W) x145(D) x 31(H) 0.34kg 5#电池 x4个
LH-373膜厚仪
日本KETT
0-2500UM
16516.5
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