供应ZM10X非接触测厚 测量炭片的厚度

ZM10X非接触测厚 测量炭片的厚度

产品名称：碳发热片

作用：碳发热片：分为超薄型发热片（厚度0.3-0.5mm）和厚型发热片(1mm以上)。根据合成的需要电阻可以调整以满足不同的合成条件需要，作用在于调整合成棒的温差与合成时间。

ZM10x非接触测厚仪检测薄片宽度，对薄片不造成损害，又能精确测量。

ZM10x非接触测厚仪主要特点

高精度：最高线性度5um；

量程范围广：可测500mm外径的物体（可根据实际情况定制更大外径型号）；

支持多个传感器同步采集（确保工业在线高精度差动测厚）；

可以对操作系统实施不同的参数设置，改变测量方式；

在PC上十分直观的显示出测量值，方便对测量过程实施监控；

采用半导体激光器发射的激光（波长660nm）作为探测信号，抗干扰能力强；

系统带有额外的四条输出信号，带负载能力强。

参数表：

ZTMS08非接触测厚 测量不透明薄膜厚度

薄膜生产厚度不均匀或者厚度值不达标，直接影响薄膜产品质量；而在生产薄膜的过程中，厚度太大，会增加企业生产的成本，厚度太薄，又达不到客户需求。因此厚度的测量是各种薄膜类生产企业必须的监控环节。

传统的测量薄膜方法是接触式测量，由于薄膜在生产过程中未成形固化，接触式测量会直接影响薄膜的形状、厚度，不利于保证产品的质量；接触探头对在线薄膜接触的压力过大，测量结果会变小，从而误导对薄膜厚度判断和生产控制，造成材料浪费，产品质量也没能够保证。

ZTMS08非接触测厚仪，采用激光非接触式测量方式，不对在线薄膜产品构成影响，而且测量精度准确，给生产机械和工人提供准确的厚度数据，达到对薄膜生产的质量、成本有效控制的目的。在沥青防水薄膜材料、电池板极片、塑料薄膜等企业得到广泛应用。

非接触测厚仪测量原理：

利用两个ZLDS100非接触测厚仪的对射方式进行厚度测量，将传感器固定在稳定的支架上，确保两个传感器的激光能再同一点上

由图所示，A、B分别是两个ZLDS100传感器所测的到薄膜的距离，C是两个传感器之间的距离，C-(A+B)=薄膜厚度。

ZTMS08非接触测厚仪采用德国进口的激光位移传感器，将激光束作为机械探针,利用电荷耦合器件来实现光电转换。ZTMS08非接触测厚仪是将激光光源、光电检测和计算机工业控制技术相结合的光、机、电一体化的高新技术产品,广泛用于工业生产，能在生产线上对各种材料的厚度、宽度、轮廓进行实时测量。同时，它具有非接触测量、不损伤物体表面、无环境污染、抗干扰能力强、精度高、数据采集、处理功能全等特点。