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静电可以损害USB接口,造成USB集成电路故障,***糟糕的是会在电子系统中产生数据位重影。 这些损害和故障造成电子设备的"硬性损伤"或元器件损坏。虽然对于硬性损伤我们可以很容易地更换失效的元器件,并使系统重新纳入正轨,但是,假如发生了“软性损伤”(CMOS元件性能降级),此时系统会不断产生不规则的数据位,要花费数小时来进行故障排查,并且依靠重复测试也很难发现系统异常,因此针对USB元件的ESD防护已经迫在眉睫
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SE05VP50N-16的电压:5V,容值:0.5pF,封装:DFN1006。
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ESD静电二极管SE05VP50N-16特性:
保护数据或I/O线
低电容
低钳位电压
IEC61000-4-2,4级
IEC61000-4-2(ESD),>±15KV(空气),>±8KV(接触)
除了USB端口之外,ESD保护二极管SE05VP50N-16还有其他的应用:
蜂窝手机及配件
数字视觉界面(DVI)
RF电路
显示端口
USB端口
MDIDI端口
PCI端口
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移动互联网高速发展的时代,智能手机给人们的生活带来了许多便捷,人们的使用频率也越来越高。作为一款人机交互频率很高的产品,智能手机与其他电子产品一样,静电放电对智能手机来说就如同洪水勐兽,人体静电放电、空气中的静电都可能对手机造成损害。静电可以损害手机USB接口,造成USB集成电路故障,***糟糕的是会在电子系统中产生数据位重影。这些损害和故障会造成手机的"硬性损伤"或元器件损坏。由此而产生的手机经常出现不能充电,死机,重启,数据丢失等情况,***终导致用户体验变差。
同时,手机USB端口在插拔的过程中,容易引起Vbus电源间的EOS(electric over stress)突波噪声。这种突波频率不高,但是能量很强,会对手机内部IC损伤极其严重。USB元件的可热插拔性使它成为静电放电敏感元件,因此对手机USB端口实施ESD防护是极其重要且必需的。
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SE05VP50N-16
CQS
DFN1006
无铅环保型
贴片式
卷带编带包装
大功率
超高频