供应非接触式测厚仪 半导体应用 品质保证 OCTY302/Crystapol

非接触式测厚仪介绍：

是一款高性能高精密的测量仪器，可以不接触样品表面进行厚度测量。这种方式可以避免接触测量引起的表面损伤，特别适用于软脆材料及对样品表面质量高要求的测量.该仪器能非常理想的用于半导体、光学及电光材料厚度的测量应用。

测量范围：10毫米

满量程精度：1微米

测量臂带细调功能
测量范围0-180mm
总高280mm
重量 8 kg

适用范围：

适用于晶圆厚度的在线测量。也适用于各种玻璃瓶、玻璃 杯、灯  泡、灯管的壁厚的在线或静态测量。

功能：

在线实时测量监控、数字显示
设备原理：

采用无污染气脉冲测量法，通过气脉冲，在晶圆表面形成均匀气膜，对被测物进行非接触、无损伤厚度测量，采样速度快精度高，性能稳定，操作简单。

设备型号：OCTY302/Crystapol

产地：英国

交货期：一个月

价格：20万