美国QVI 桌上型半自动CD测量系统——VIEW MicroLine 300

MicroLine-300是一款桌上型半自动CD测量系统。

主要的技术参数：

◆    测量范围(XYZ)：标准：200?200?25mm；可选：300x300x25
◆    视场内测量精度：10nm(100X 镜头)；Z轴聚焦范围：25 mm
◆    视场内测量范围：0.5um~400um；
◆    视场内测量重复性(100x 物镜)：  晶圆上<0.010um(1δ)；
                                                    掩模板上0.005um(1δ)；   

◆    承重：2kg

◆    标配镜头10x，可选镜头：5X, 20X, 50X, 100X 

MicroLine 300 is a table type semi-automatic CD measurement system .

The main technical parameters :

◆ X,Y,Z Measuring Range (mm):   standard :200x200x25                      optional :  300X300x25 

◆ The field measurement accuracy ：10nm （100X lens ）          Z Foucsing Range (mm)     :   25

◆ The field measurement range ：0.5um~400um；

◆ The field measurement repeatability （100X lens）：on wafer < 0 0.010m(1δ)；

                                                                             on mask plate 0.005um(1δ)；   

◆  Max Recommanded Load      :   2kg

◆  Lens ： standard ：10X

                 optional ：5X，20X，50X，100X。