逻辑 SN74LVTH18502APM 集成电路

SN74LVTH18502APM介绍：

描述 IC 18BIT SCAN TST DEV UBT 64LQFP

制造商标准提前期 8 周

详细描述 ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers IC 64-LQFP (10x10)

类别 集成电路（IC）

逻辑 - 专用逻辑

制造商 Texas Instruments

系列 74LVTH

包装    带卷（TR）  

零件状态 在售

逻辑类型 ABT 扫描测试设备，带通用总线收发器

电源电压 2.7 V ~ 3.6 V

位数 18

工作温度 -40°C ~ 85°C

安装类型 表面贴装

封装/外壳 64-LQFP

供应商器件封装 64-LQFP（10x10）

基本零件编号 74LVTH18502

安富利（深圳）商贸有限公司介绍：

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集成电路发明者为杰克·基尔比（基于硅的集成电路）和罗伯特·诺伊思（基于锗的集成电路）。当今半导体工业大多数应用的是基于硅的集成电路。

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