X-RAY膜厚测试仪

美国X-RAY膜厚测试仪是利用X射线荧光（XRF）进行镀层厚度测量和材料分析，提高过程和质量控制。
采用新改进的基本参数法，无论是无标准片测量还是有标准片测量，都能快速并且准确的获得测量结果。为了简化样品放置，X射线源和最新数字半导体接收器置于了 BA100 的底部，从而可以采用射线向上的测量技术。
可以胜任测量传统的镀层厚度测量仪器由于X-射线荧光强度不够而无法测量到的结构。
美国X-RAY膜厚测试仪的主要特点：

> 采用国际上最先进的、稳定性最好的射线源，体积小，使用寿命长，易维护。
    > 设备结构简洁、操作简单、部件更换快速、简单，便于维护。
    > 快速多点校正法技术保证了系统的长期精度。
    > 快速、连续、非接触测量、实时显示高精度测量值。
    > 操作站：提供中英文操作界面(Win2000)。采用web以太网平台，使用最新的JAVA 技术。
    > 采用双放大技术和独特大电离室，提升测量范围及精度。.博曼电镀（膜厚测试仪）膜厚仪，可分析单层镀层,双层镀层,三层镀层,合金镀层.可分析镀液的主成份浓度(如镀镍药水的镍离子浓度,镀铜药水的铜离子浓度等),简单的核对方式,无需购买标准药液.博曼电镀（膜厚测试仪）膜厚仪，可测量电镀、蒸镀、离子镀等各种金属镀层的厚度。
可通过CCD摄像机来观察及选择任意的微小面积以进行微小面积镀层厚度的测量，避免直接接触或破坏被测物。博曼电镀（膜厚测试仪）膜厚仪应用于钟表.五金,电镀,端子.连接器.金属等多个领域.让客户满意是我们金东霖科技始终的目标.

型号/规格

450*450*600

品牌/商标

美国博曼

供应X-RAY膜厚测试仪