产品概述
IC 事业部已承接几十套芯片的老炼试验系统,与 502 所长寿命试验中心、物资部、58 所等多家单位合作,使用银河 SE600-15 恒温箱、银河 WG300P 高低温箱等设备进行试验,具有丰富的老炼试验系统开发与试验经验。
应用情况
试验 |
||
芯片 |
测试数量 |
试验条件 |
CMV4000 |
229 |
70℃,240h |
10 |
70℃,1000h |
|
229 |
-30℃ /70℃,3h |
|
YK28F256KV
|
871 |
125℃,240h |
871 |
150℃,72h |
|
871 |
-55℃ /125℃,3h |
|
A3PE3000L |
10 |
85℃,1000h |
YK1013Q |
374 |
125℃,240h |
374 |
150℃,72h |
|
YKSoC2012 |
435 |
125℃,240h |
435 |
150℃,72h |
|
STAR1000 |
239 |
70℃,240h |
YK6664RH |
564 |
125℃,240h |
564 |
150℃,72h |
|
YK8R1M40 |
220 |
125℃,240h |
220 |
150℃,72h |
|
220 |
-55℃ /125℃,3h |
|
YKP6117S |
66 |
125℃,240h |
66 |
150℃,72h |
|
66 |
-55℃ /125℃,3h |