在开关电源中，光耦是反馈输出电压的情况给前级控制电路的。如果光耦损坏，可能导致输出电压异常，还有可能会使电路进入过压，或过流保护状态，而无电压输出。开关电源是利用现代电力电子技术，控制开关管开通和关断的时间比率，维持稳定输出电压的一种电源，开关电源一般由脉冲宽度调制（PWM）控制IC和MOSFET构成。

　　开关电源中的光耦损坏，导致电源电路不能稳压，严重的能导电源不工作。

　　随着电力电子技术的发展和创新，使得开关电源技术也在不断地创新。目前，开关电源以小型、轻量和高效率的特点被广泛应用几乎所有的电子设备，是当今电子信息产业飞速发展不可缺少的一种电源方式。

光耦也是损坏概率较大的元件，在线测试光耦功能是否正常非常有意义。根据统计，带内部放大器的驱动光耦和模拟量输入的光耦损坏居多。

　　驱动光耦可以使用指针万用表的电阻挡，一般选取X10Ω挡就可以，可以使用此挡点亮光耦内部的发光二极管，如果光耦输出端无须接电源，则可直接使用数字万用表二极管挡测试输出响应，如果光耦输出需要带电源，则测试时还需给光耦通电。有些电路板开关电源给电后，光耦就会得电，要测试光耦直接给前级驱动电流，万用表再测试响应电压就可以。