概述：


    本仪器是一种便携式测量仪，它能快速、无损伤、精密地进行涂、镀层厚度的测量。既可用于实验室，也可用于工程现场。通过使用不同的测量头，还可满足多种测量的需要。本仪器能广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。是材料保护必备的仪器。


    技术参数


    ●  测量范围：0-1250um[*]   0-1500um[**]


    ●  工作电源：两节 5 号电池


    ●  测量误差：零点校准 ±（1+3%H）；二点校准±【（1%～3%H）】H+1.5


    ●  环境温度 0-40℃


    ●  相对湿度≤85%


    ●  基体 10*10mm


    ●  曲率凸 5mm;凹 5mm


    ●  最薄基体：0.4mm


    ●  重量：99 克（含电池）


    ●  尺寸 102mm*66mm*24mm


    本仪器符合以下标准：


    GB/T 4956─1985 磁性金属基体上非磁性覆盖层厚度测量  磁性方法


    GB/T 4957─1985 非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量  涡流方法


    JB/T 8393─1996 磁性和涡流式覆层厚度测量仪


    JJG 889─95 《磁阻法测厚仪》


    JJG 818─93 《电涡流式测厚仪》


    产品特点：


    采用了磁性和涡流两种测厚方法，即可测量磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度又可测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度；可采用单点校准和两点校准两种方法对仪器进行校准，并可用基本校准法对测量头的系统误差进行修正，保证仪器在测量过程中仪器的准确性；能快速自动识别铁基体与非铁基体具有电源欠压指示功能操作过程有蜂鸣声提示；设有两种关机方式：手动关机方式和自动关机方式；有负数显示功能，保证仪器在零位点的校准准确性；有显示平均值、值、值功能[*]


    测量原理:


    本仪器采用了磁性和涡流两种测厚方法，可无损地测量磁性金属基体( 如钢、铁、合金和硬磁性钢等 )上非磁性覆盖层的厚度(如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、 油漆等)及非磁性金属基体(如铜、 铝、 锌、 锡等)上非导电覆盖层的厚度(如:珐琅、橡胶、油漆、塑料等)。


    a)  磁性法(F 型测量头)


    当测量头与覆盖层接触时，测量头和磁性金属基体构成一闭合磁路，由于非磁性覆盖层的存在，使磁路磁阻变化，通过测量其变化可导出覆盖层的厚度。


    b)  涡流法(N 型测量头)


    利用高频交变电流在线圈中产生一个电磁场，当测量头与覆盖层接触时，金属基体上产生电涡流，并对测量头中的线圈产生反馈作用，通过测量反馈作用的大小可导出覆盖层的厚度。


    使用说明：


    1）开机


    按下 ON 键后仪器听到一声鸣响，自动恢复上次关机前的参数设置后，将显示0.0μm，仪器进入待测状态。可测量工件了。经过一段时间不使用仪器将自动关机。


    2）关机


    在无任何操作的情况下，大约 3分钟后仪器自动关机。按一下“ON”键，立即关机。


    3）单位制式转换（公制与英制转换）


    在待测状态下，按μm/mil可转换其测量单位。


    4）测量


    a)准备好待测试件


    b)是否需要校准仪器，如果需要，选择适当的校准方法进行(参照 4 仪器校准)


    c)迅速将测量头与测试面垂直地接触并轻压测量头定位套，随着一声鸣响，屏幕显示测量值，仪器会自动感应被测基体：感应到是磁性基体时仪器显示 Fe感应到是非磁性金属时仪器显示 NFe。测量时请始终保持仪器处于垂直状态！提起测量头可进行下次测量；


    影响测量因素：


    a)  基体金属磁性质


    磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响（在实际应用中，低碳钢磁性的变化可以认为是轻微的），为了避免热处理和冷加工因素的影响，应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准；亦可用待涂覆


    试件进行校准。


    b)  基体金属电性质


    基体金属的电导率对测量有影响，而基体金属的电导率与其材料成分及热处理方法有关。使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准。


    c)  基体金属厚度


    每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度，测量就不受基体金属厚度的影响。


    d)  边缘效应


    本仪器对试件表面形状的陡变敏感。因此在靠近试件边缘或内转角处进行测量是不可靠的。


    e)  曲率


    试件的曲率对测量有影响。这种影响总是随着曲率半径的减少明显地增大。因此，在弯曲试件的表面上测量是不可靠的。


    f)  试件的变形


    测量头会使软覆盖层试件变形，因此在这些试件上测出可靠的数据。


    g)  表面粗糙度


    基体金属和覆盖层的表面粗糙程度对测量有影响。粗糙程度增大，影响增大。粗糙表面会引起系统误差和偶然误差，每次测量时，在不同位置


    上应增加测量的次数，以克服这种偶然误差。如果基体金属粗糙，还必须在未涂覆的粗糙度相类似的基体金属试件上取几个位置校对仪器的零点；或用对基体金属没有腐蚀的溶液溶解除去覆盖层后，再校对仪器的零点。


    h)  磁场


    周围各种电气设备所产生的强磁场，会严重地干扰磁性法测厚工作。


    i)  附着物质


    本仪器对那些妨碍测量头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感，因此，必须清除附着物质，以保证仪器测量头和被测试件表面直接接触。


    j)  测量头压力


    测量头置于试件上所施加的压力大小会影响测量的读数，因此，要保持压力恒定。


    k)  测量头的取向


    测量头的放置方式对测量有影响。在测量中，应当使测量头与试样表面保持垂直。